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Agilent/N7788B/安捷伦 N7788B 光学元件分析仪
详细资料:,
产品描述:
N7788B 元器件分析仪突破了元器件测量的极限。其专有技术可与著名的琼斯矩阵特征分析 (JME) 相媲美,后者是测量光学器件偏振模色散 (PMD) 或差分群延迟 (DGD) 的标准方法。
特点:
单次扫描的最高准确度:无需多次扫描的平均值
测量速度快
在不到 10 秒的时间内完成整个 C/L 波段的测量(无需等待许多平均值)
抗纤维移动/振动和漂移的坚固性
仪器保证:我们的大多数设备在装运之前均经过严格的质量检测与校验。也可申请国家计量证书。 |
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