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其它/布鲁克(Bruker) Bruker PI 89 扫描电镜纳米压痕仪/布鲁克(Bruker) Bruker PI 89 扫描电镜纳米压痕仪
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详细资料：
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Hysitron PI 89 SEM PicoIndenter 利用扫描电子显微镜
（SEM、FIBSEM、PFIB）的先进成像功能，可以在成像的同
时进行定量纳米力学测试。PI 89 进一步推动了布鲁克市场
领先的电容式传感器技术，该技术实现了第一个商用原位
SEM 纳米力学平台。新的 PI 89 Auto 为四种技术增加了
完全自动化：EBSD、EDS、SEM 成像和机械特性映射。
PI 89 上可用的技术包括纳米压痕、拉伸测试、支柱压缩、
颗粒压缩、悬臂弯曲、断裂、疲劳、动态测试和机械性能映射。
Hysitron PI 89 的紧凑设计可实现最大的载物台倾斜和最小工作距离，从而在测试过程中实现最佳成像。PI 89 为研究人员提供了比竞争对手系统更大的多功能性和性能：
- 重新设计的平台提高了多功能性和易用性
- 1 nm 编码线性平台在自动测试模式下提供更高的可重复性，同时增加行程范围
- 改进的框架刚度 （~0.9 x 106N/m） 在整个测试过程中提供更高的稳定性
- 旋转和倾斜 （RT） 载物台配置可实现成像、FIB 铣削，并可使用 EDS、CBD、EBSD 和 TKD 等探测器进行分析数据和成像
仪器保证：
我们的大多数设备在装运之前均经过严格的质量检测与校验。也可申请国家计量证书。
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