Keysight/4157B /模块半导体参数分析仪

• Keysight/4157B /模块半导体参数分析仪
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详细资料：

主要特性与技术指标
一般特征

通过I / CV 3.0 Lite软件控制的灵活，可扩展和可升级的模块化参数仪器
超低电流测量，无需外部前置放大器
灵活地提供稳定的100aA测量
在CV和IV测量之间切换，而不浪费时间交换电缆
测量能力

1毫微安电流测量分辨率，无外部前置放大器（高分辨率SMU）
100 attoamp电流测量分辨率使用HRSMU与Atto感测和开关单元（ASU）
10飞安和0.5微伏测量分辨率（中功率SMU）
+/- 200伏和高功率SMU的+/- 1安培输出
I / CV 3.0 Lite软件功能

所有受欢迎的半自动晶圆探针的驱动器
直观的基于GUI的开关矩阵控制B2200A，B2201A和E5250A
用于在整个晶片上自动测试的测试序列器
后测试图形分析和晶片映射能力

仪器保证：

我们的大多数设备在装运之前均经过严格的质量检测与校验。也可申请国家计量证书。