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Exfo/OPAL-MD/多晶粒自动化测试站
详细资料:,
产品概述:
OPAL-MD 多晶粒测试站通过准确、可重复、灵活和快速的硬件为集成光子学提供高性能表征。PILOT 软件套件增强了 OPAL-MD 的硬件功能,提供自动化测试站和质量测量源,可转化为可操作的数据。完整的应用程序套件是一个支持完整测试和测量流程的平台,可帮助用户更加以数据为导向。OPAL-MD与EXFO先进的光学测量功能相结合,对任何第三方仪器开放,是PIC测试的专用平台。
该工作站的硬件包括一个电动 4 轴运动系统卡盘定位平台,可选配热控制。它还包括一个高分辨率顶部视觉系统和一个远心侧面视觉系统。该工作站最多可容纳三个用于光学或电测头的测头。
基座运动系统和电动光学探头的高分辨率和可重复性转化为更低的光学测量插入损耗和误差裕度,可以在多个芯片和电路上高效重复,在测试执行过程中无需任何人工干预。
产品特点:
在一次执行中实现多晶粒 PIC 表征
带有可重新配置探头的灵活设计
用于准备、执行和分析 PIC 测试数据的单一软件套件
超精密光学头 – 表面和边缘耦合的理想选择
仪器保证:我们的大多数设备在装运之前均经过严格的质量检测与校验。也可申请国家计量证书。 |
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