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    Exfo/EXFO CT440/CT440-PDL 光学元件测试仪/光学元件测试仪

    • Exfo/EXFO CT440/CT440-PDL 光学元件测试仪/光学元件测试仪
    • 欲购买或租赁Exfo/EXFO CT440/CT440-PDL 光学元件测试仪/光学元件测试仪?请在线咨询或拔打24小时电话:13715327187
    光学元件测试仪/Exfo缩略图

    详细资料:

    ,

    产品概述:
     
    EXFO CT440/CT440-PDL光学元件测试仪以其高精度、多通道测量、可调谐激光器兼容以及偏振保持和偏振相关损耗测量等特点,成为光纤通信和光网络测试领域的重要工具。
     
    产品特点:
     
    测试范围广泛:
    覆盖从1240到1680nm的频谱范围,适用于整个电信波段上的测量。
    可同时测量无源光器件(如复用器/解复用器、滤波器、分光器等)和模块(如ROADM、WSS)的性能。
    高精度测量:
    波长精准度达到±5pm,波长分辨率在1至250pm之间可调。
    单次激光器扫描的动态范围为65dB,确保测量的准确性。
    多通道测量:
    配备四个内部检测器,支持同时测量四个通道,提高测试效率。
    可调谐激光器兼容:
    最多可结合4个可调谐激光器(SMF型号),实现无缝的全波段测量。
    完全兼容EXFO的T200S/T500S和T100S-HP连续可调谐激光器。
    偏振保持(PM)和偏振相关损耗(PDL)测量:
    CT440-PDL型号集成了一个偏振态发生器,能够鉴定插损和偏振相关损耗的频谱(基于穆勒矩阵法)。
    可选购偏振保持(PM)光纤,用于测量对偏振敏感的器件(如MZ调制器)的插损。

    仪器保证:

    我们的大多数设备在装运之前均经过严格的质量检测与校验。也可申请国家计量证书。

    仪器高级查询

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