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Exfo/OPAL-SD/单晶片半自动探针台
- Exfo/OPAL-SD/单晶片半自动探针台
- 欲购买或租赁Exfo/OPAL-SD/单晶片半自动探针台？请在线咨询或拔打24小时电话：13715327187
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详细资料：
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产品概述：
EXFO OPAL-SD单晶片半自动探针台以其高精度、可重复性、自动化、可追溯性、灵活性和可扩展性等特点，在集成光子器件的测试领域具有广泛的应用前景。无论是科研还是工业生产中的测试需求，该设备都能提供准确可靠的测试结果，并帮助用户优化测试流程和提高测试效率。
产品特点：
高精度与可重复性：
OPAL-SD单晶片半自动探针台配备了高精度DC、RF手动探针定位器以及超精密的光探针，确保了测试的准确性和可重复性。
探针定位器能够精确调整卡盘和裸片的位置，从而实现微米级甚至纳米级的定位精度。
自动化与可追溯性：
该设备结合了PILOT软件套件，提供了一个全面、灵活、可扩展的解决方案，能够自动化测试流程并处理测量结果。
PILOT软件还提供了数据分析和人工智能建模功能，帮助用户将PIC的测量结果转化为正确决策和行动。
借助先进的自动化软件，用户可以定义并维护电路元件、设计参数、模拟结果、实验结果和条件之间的逻辑结构，实现绝对可追溯性。
灵活性与可扩展性：
OPAL-SD平台的设计非常灵活，可以通过同时设置多达4个探针的任意组合来满足不同客户的需求。
光或电探针可以放置在被测设备周围的任何朝向（北向、东向、南向和西向），这种灵活性使得客户能够根据自己的需求定制和扩展测试。
全面的测试能力：
OPAL-SD单晶片半自动探针台不仅支持简单的连通性或隔离性检查，还支持复杂的微电路完整功能测试。
该设备能够结合EXFO系列仪表的先进光学测量功能，进行光谱分析以及误码率等光电测试。
仪器保证：
我们的大多数设备在装运之前均经过严格的质量检测与校验。也可申请国家计量证书。
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