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    其它/mORL-A13500/VIAVI mORL-A13500 插回损测试模块

    • 其它/mORL-A13500/VIAVI mORL-A13500 插回损测试模块
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    VIAVI mORL-A13500 插回损测试模块/其它缩略图

    详细资料:

    ,

    VIAVI MORL-A13500-STD-M100-MFA 产品概述

    主要特点和规格

    Viavi MORL-A13500-STD-M100-MFA IL/RL 仪表 1310 /1550nm SMF FC/APC

    • 插入损耗/回波损耗测试仪,用于 VIAVI 高级 MAP 系列平台。

    好处

    • 产量提高 4 倍
    • 只需要其他解决方案的 25% 的空间
    • 支持扩展到新的高增长、高性能应用程序,例如 40/100 G 数据中心市场
    • 模块化平台可以根据需求和预算进行扩展
    • 端口映射可在不到 15 秒的时间内验证多光纤 MPO 盒的连续性和极性
    • 完全支持高增长的 MPO 和 MTP 多光纤连接器

    应用

    • 测试光连接器和光缆组件、结构化布线解决方案和光分路器的 IL/RL/长度
    • 多光纤组件(如 MPO)的自动化测试
    • 适用于单模和多模光纤设备的解决方案
    • 验证大型多光纤组件的连续性和极性
    • 测量线卡和基于插座的应答器的 RL

    描述

    光纤连接解决方案(光纤连接器、结构化布线、分路器及其外壳)是连接密集型中心机房、数据中心和光纤分配网络的中心。在电信、数据通信、无线回传和 FTTx 之外,新的超级计算应用也在不断涌现,与此同时,海军、航空和军事应用也在不断增加。所有这些市场都是由对更多带宽的需求推动的。出于必要,新的连接器格式正在进入市场,这是由于需要降低安装成本和加快部署速度。

    然而,这些连接点的质量和光学性能经常被忽视。不良的插入和回波损耗(IL 和 RL)会对网络性能产生深远的影响。性能不佳会直接影响覆盖范围、可靠性,甚至会阻碍技术升级。同时,经济因素要求制造商继续降低成本、加快生产速度并加快上市时间。

    VIAVI 无源元件/连接器测试解决方案 (PCT) 由一系列强大的模块、软件和外设组成,用于测试光连接产品的插入损耗、回波损耗、物理长度和极性。利用 VIAVI MAP 系列平台的模块化和连接性,PCT 可以针对研发、生产或鉴定测试环境进行配置,并且可以处理从单模到 OM1 和 OM4 的所有关键光纤类型。

    mORL 通常与光开关 (mOSW/mISW) 和远程光功率计 (mOPM) 模块结合使用。

     

    仪器保证:

    我们的大多数设备在装运之前均经过严格的质量检测与校验。也可申请国家计量证书。

    仪器高级查询

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