其它/MOSW-C142X002P0-M100-MFA/VIAVI MOSW-C142X002P0-M100-MFA 光开关模块

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详细资料：

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制造测试自动化对于降低产品成本至关重要，而光开关是任何自动化测试系统的核心。VIAVI mOSW-C1 光开关模块和 mISW 光开关托盘建立在行业领先的第四代仪表级 VIAVI 光开关技术之上。mOSW-C1/mISW-C1 在网络、监控和制造应用的光开关领域拥有 30 多年的领导地位，以业界最小的尺寸代表了性能和可靠性的新里程碑。

大型固定格式 19 英寸 VIAVI 机架安装系统中的性能和可重复性首次以模块化插件或托盘形式提供。制造工程师不再需要在测试系统的尺寸和性能之间做出选择。利用 mOSW-C1/mISW-C1 可以将开关系统的尺寸减小多达 75%，同时仍能提供更大的传统系统的性能。开关速度提高了 50%，显著节省了连接密集型架构的测试时间。

这些交换机是 MAP-200 系列的组件。凭借业内最广泛的光学模块，它是所有光学行业领域制造测试自动化的最受欢迎选择。这包括无源元件、应答器和线卡的制造。通过远程 VNC、以太网、GPIB 或本地 GUI 实现的高级连接使 MAP-200 成为复杂自动化架构的自然选择，因为它极大地简化了远程制造现场的调试。

好处

• 提供所有光纤切换，不受数据速率和传输格式的影响
• 无论开关尺寸如何，对动态测量范围的影响都最小，从 1x2 到 1x176 的所有配置都具有低损耗
• 灵活的 SCPI 远程接口允许用户使用 MAP-200 样式的命令对交换机进行编程，或保持与行业标准 VIAVI SB/SC 系列光开关的向后兼容性
• 保证 0.04 dB 的超低 PDL 和 ±0.005 dB 的可重复性，以最大限度地降低单输入版本的测量不确定性
• 新的 PTRIM 选项简化了故障排除，并可测量高达 20 dB 的在线功率，以实现连接端口上的粗略可编程损耗
• 1C、2D（双工）和 2E 输入配置可实现节省成本的架构，从而减少所需的开关数量
• 扩束技术确保多模开关“模态透明”，并且不会干扰模式分布，大大简化了传输测试或启动 IEC 兼容模式的测试

应用

• 多端口组件、模块和线卡的测试系统自动化
• 管理制造中复杂的测试序列
• 与 MAP-200 mORL-A1 模块配对，以测试多光纤连接器
• 长期可靠性测试

仪器保证：

我们的大多数设备在装运之前均经过严格的质量检测与校验。也可申请国家计量证书。