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其它/Luna 6400/general photonics Luna 6400 Lightwave 元件分析仪
详细资料:, 产品描述Luna 6415 和 Luna 6435 利用光频域反射法 (OFDR) 技术来测量反向散射光或透射光与距离的关系。极高的灵敏度和采样分辨率 (20 μm) 使 6400 系列成为光子集成电路 (PIC)、硅光子学、无源元件以及光纤网络和组件的理想解决方案。Luna 6400 系统通过使用一台仪器测量 RL、IL 和反射或传输的长度/延迟,降低了测试的成本和复杂性,
仪器保证:我们的大多数设备在装运之前均经过严格的质量检测与校验。也可申请国家计量证书。 |
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