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NI/PXIe-4190/NI PXIe-4190 PXI LCR 测试仪

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详细资料：

PXle，高达2MHz，高达40VPXILCR仪表

PXle-4190可帮助您测量并测试电子设备的电感、电容和电阻(LCR)。它包括一个具有fF级电容测量的LCR表和一个具有fA级电流测量的精密源测量单元(SMU)。您可以在电容-电压/电流-电压(CV/IV)自动测试系统中使用PXle-4190仪表，其可用于半导体应用，包括集成无源设备(IPD)、微电子机械系统(MEM)、多层陶瓷电容器(MLCC)和参数测试。此外，PXle-4190还受到NI-DCPower仪器驱动程序的支持，其中包括用于LabVIEW、C、C#.NET、Python和其他编程语言的API。