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其它/6362A/Ceyear6362A光谱分析仪

其它/6362A/Ceyear6362A光谱分析仪
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详细资料：

基本概述

Ceyear 6362A 光谱分析仪采用先进的分光技术，支持 600~1700nm 波段范围的光谱测量，适用于 LED、LD（激光二极管）、SLD（超辐射激光二极管）、DFB-LD（分布反馈激光二极管）、光纤光栅、光学滤波器等多种光电子元器件及系统的测试。其高分辨率和灵活的功能设计，使其成为光通信、光电子器件研发及生产中的理想工具。

特点

最小光谱分辨率：0.05nm，能够精确分析细微的光谱变化。

光谱扫描范围：600~1700nm，覆盖了常见的光电子元器件测试需求。

单纵模激光光谱分析：针对 DFB-LD 等单纵模激光光源，提供阈值分析和边模抑制比分析，帮助评估中心波长、光谱带宽和边模抑制比。

多纵模激光光谱分析：针对 FP-LD 等多纵模激光光源，支持 ndB 损耗分析、包络分析和均方根分析，提升测试的全面性。

包络分析：可分析光谱的包络特征，用于评估器件的整体性能。

峰值检测：采用自适应峰值检索算法，检测准确度高，适应性强。

损耗分析：支持 ndB 损耗分析，适用于光纤放大器等器件的测试。

可存储仪器状态、用户数据文件、扫描列表文件及波形序列等，支持 USB、RS232C、LAN 和 VGA 接口，便于数据传输和远程控制。

动态范围最高可达 70dB（大动态版），适合检测低功率信号，提升测试精度。