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SANTEC/STS /Santec STS 光学器件扫描系统

SANTEC/STS /Santec STS 光学器件扫描系统
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详细资料：

Santec STS光学器件扫描系统是光学器件研发和生产现场的理想评估工具。它整合了可调谐激光器、光功率计、偏振控制单元和专用软件，可对光学器件的相关特性进行高效测量。

特点

系统组成：主要由TSL系列可调谐激光器、MPM系列多端口功率计、PCU-110偏振控制单元和定制软件构成。

测量原理：通过同时获取通过被测器件（DUT）传输的光功率，同时实时参考可调谐激光器的输出功率，来进行高精度测量。系统采用穆勒矩阵法计算偏振相关损耗（PDL）。

可实现高精度插入损耗（IL）、波长相关损耗（WDL）和PDL特性测量，IL再现性<±0.02dB，PDL再现性为±0.01dB。具备缩放算法，能以高波长分辨率和波长精度进行测量，还可减少测量时间。支持多通道测量，具有图形用户界面和DLL支持，方便配置测量参数与数据分析，WDL测量动态范围超过80dB。

主要用于光学器件研发和生产过程中，对密集波分复用（DWDM）器件、阵列波导光栅（AWG）、波长选择开关（WSS）等各类光器件的IL、WDL、PDL等参数进行测量和评估。