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其它/XDV-SDD/X射线荧光镀层测厚及材料分析仪全新

其它/XDV-SDD/X射线荧光镀层测厚及材料分析仪全新
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详细资料：

产品描述：

XDV-SDD 是一款台式测量仪器，测量门向上开启，侧面开槽设计。它配备了马达驱动、可编程运行的 X/Y 轴工作台和 Z 轴升降台，以及马达驱动、可切换的准直器和基本滤片。仪器采用带铍窗口的微聚焦钨管，三挡可调节高压，6 个可切换的基本滤片，最多可同时测定从铝（13）到铀（92）中的 24 种元素。

产品特点：

高性能探测器：采用 50mm² 超大有效面积的高分辨率硅漂移探测器，可精确无损地测量最薄的层，例如能测定 2 纳米以下的金涂镀层厚度。

高效数据处理：与自主研发的数字脉冲处理器 DPP + 结合，可处理更高的计数率，从而缩短测量时间或提高测量结果的重复性。

灵活的测量配置：具备 4 倍可更换的孔径和 6 倍可更换的滤片，能为不同的测量任务创造理想的激发条件，测量光斑约为 ø0.25mm。

用户友好设计：仪器操作界面友好，通过功能强大的 WinFTM® 软件可在电脑上完成所有操作、数据计算和报表显示。内置带有图像放大及十字线功能的视频系统，搭配激光指针，便于样品放置和测量点定位。