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Tektronix/DSA8300+80C07B /Tektronix DSA8300+80C07B 采样示波器+模块
- Tektronix/DSA8300+80C07B /Tektronix DSA8300+80C07B 采样示波器+模块
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详细资料:
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产品描述
Tektronix DSA8300 是一款高性能等效时间采样示波器,专为通信信号分析、串行数据网络分析以及串行数据链路分析设计。搭配 80C07B 光接口模块后,支持 155 Mb/s 至 10 Gb/s 光数据速率测试,覆盖单模/多模光纤应用,并提供高光学灵敏度、低噪声及宽动态范围。该系统可同时采集最多 8 条通道,具备 16 位垂直分辨率 和 超低时基抖动(425 fs 典型值),支持复杂抖动、噪声、BER(误码率)及 SER(符号错误率)分析,适用于电信、数据通信及消费电子领域的高速光接口与电接口一致性验证。
主要特点
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高分辨率与低噪声:16 位模数转换器提供 <20 μV LSB(1 V 全量程) 电接口分辨率,光接口分辨率 <20 nW(1 mW 全量程,80C07B 模块),确保微弱信号精准捕获。
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超低时基抖动:最多 8 条通道同时采集时典型值为 425 fs,搭配 82A04B 相位参考模块后,6 条通道抖动 <100 fs,支持高精度信号同步分析。
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宽光/电接口带宽:光接口带宽 >80 GHz,电接口带宽 >70 GHz,覆盖从 155 Mb/s 到 100 Gb/s 的光标准(如以太网、光纤通道)。
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全面自动化测试:支持 80 多种行业标准模板 自动模板测试,可导入定制模板;提供 120 种以上自动测量功能(如上升时间、幅度、RMS 抖动)。
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复杂信号分析:集成 80SJNB 软件,支持 TDECQ(发射机色散眼图闭合)、SNDR(信噪失真比)等高级测量,分析 PAM4 信号眼图抖动、噪声及 BER。
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模块化与灵活性:6 个模块插槽支持光接口、电接口、时钟恢复及 TDR(时域反射计)模块热插拔,满足未来测试需求升级。
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高性能 TDR:10 ps 典型阶跃上升时间,支持阻抗不连续性检定及 50 GHz S 参数测量,适用于封装、PCB 或电缆的信号路径分析。
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高测试吞吐量:每通道采样率高达 200 kS/s,支持 IEEE-488、以太网及本地处理器接入,缩短一致性验证时间。
仪器保证:
我们的大多数设备在装运之前均经过严格的质量检测与校验。也可申请国家计量证书。