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半导体参数分析仪
KEITHLEY/4200 - SCS/Keithley 4200 - SCS 参数分析仪
- KEITHLEY/4200 - SCS/Keithley 4200 - SCS 参数分析仪
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详细资料:
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Keithley 4200-SCS 是一款高性能半导体特性分析系统,集成多种测量模块,支持半导体器件的直流、交流及脉冲特性测试,适用于芯片研发、工艺验证及质量控制,为半导体行业提供精准可靠的测试解决方案。
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测量模块:集成源测量单元(SMU)、低噪声前置放大器等,满足多维度测试需求
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电压范围:±10 μV 至 ±200 V,覆盖宽量程电压测量
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电流范围:±10 fA 至 ±1 A,支持微弱电流与大电流测试
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测量精度:电流分辨率达 1 fA,电压分辨率达 1 μV,确保测试准确性
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测试功能:支持 IV 曲线、电容 - 电压(CV)、击穿电压等半导体核心参数测试
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操作软件:配备 LabTracer 软件,支持自动化测试与数据可视化分析
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扩展能力:模块化设计,可灵活添加测试模块,适配不同测试场景
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接口配置:支持 GPIB、LAN 接口,便于系统集成与远程控制
仪器保证:
我们的大多数设备在装运之前均经过严格的质量检测与校验。也可申请国家计量证书。