KEITHLEY/4200-SCS/吉时利(Keithley)4200-SCS半导体参数分析仪

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详细资料：

产品简介：

吉时利 4200‑SCS 是模块化全集成半导体参数分析仪，支持 I‑V、C‑V 及超快脉冲 I‑V 同步测量。电流范围 10aA‑1A，电压达 210V，频率 1kHz‑10MHz。最多 9 个测量槽，配置灵活，适用于半导体器件、材料及工艺研发测试。

​产品特点：

主要特点及优点直观的、点击式Windows?操作环境*的远端前置放大器，将SMU的分辨率扩展至0.1fA新的脉冲和脉冲I-V能力用于良好半导体测试新的示波器卡提供集成的示波器和脉冲测量功能内置PC提供快速的测试设置、*的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储*的浏览器风格的软件界面，根据器件的类型来安排测试，可以执行多项测试并提供测试序列与循环控制功能内置stress/measure、looping和数据分析用于点击式可靠性测试，包括五个符合JEDEC的范例测试

支持多种LCR表、吉时利开关矩阵配置与吉时利3400系列和安捷伦81110脉冲发生器等多种外围设备包括驱动软件，支持Cascade Microtech Summit12K 系列、 Karl Suss PA-200和PA-300、micromanipulator 的8860 自动和手动探针台良好半导体支持包括吉时利提供的IC-CAP器件建模包驱动程序并支持Cadence BSIM ProPlus/Virtuoso 和Silvaco UTMOST器件建模工具

容易使用的4200-SCS型半导体特性分析系统用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析，具有高精度和亚f*的分辨率。它提供了良好的系统集成能力，包括完整的嵌入式PC机，Windows NT操作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程，这样用户可以更快地开始分析测试结果。更多特性使stress-measure能力适合广泛的可靠性测试。

仪器保证：

我们的大多数设备在装运之前均经过严格的质量检测与校验。也可申请国家计量证书。