产品特点：

超高分辨率测试：支持亚 fA 级电容测量，相比标准版大幅提升弱信号捕捉能力，可精准表征微弱电容变化。

宽频多频点扫描：1kHz~10MHz 频率范围，支持上万频点连续扫描，满足器件在不同频率下的电容特性分析需求。

四端低干扰设计：配备 HCUR/HPOT/LCUR/LPOT 独立接口，有效消除引线阻抗与寄生电容影响，提升测试精度。

系统无缝集成：模块化适配 4200A-SCS 主机，可与 SMU 模块协同工作，实现 I-V 与 C-V 特性一站式测试。

专业软件支持：搭配 Clarius + 软件，提供丰富测试模板与数据分析工具，简化复杂测试流程，适配多种半导体测试场景。