产品特点：

高速源测一体化：双通道同步输出与测量，脉冲宽度60ns~DC，采样率200MS/s，并行 14 位 ADC，单通道存储深度达百万采样点。

宽量程高精度：电压 ±10V/±40V 可选，电流 100μA~800mA 四档，电流分辨率 <12nA，电压精度 ±(0.25%+10mV)。

多测试模式：脉冲 I-V、瞬态波形捕获、Segment ARB 任意波形，适配动态与可靠性测试。

系统集成度高：单槽位设计，单主机可插 4 块实现 8 通道同步，时序同步误差 < 3ns。

应用场景广泛：适配非易失性存储器、功率器件、高 k 介质、NBTI/PBTI 可靠性及 MEMS 等高速表征。