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NI/NI PXI-2512 /NI PXI-2512 开关模块

NI/NI PXI-2512 /NI PXI-2512 开关模块
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详细资料：

NI PXI-2512 是面向硬件在环（HIL）仿真与电子可靠性测试的PXI 故障注入开关模块（FIU），采用 FET 固态开关架构与贯通式通道设计，是电控系统故障验证、电路防护能力测试的核心模块化硬件。模块电气性能强劲，支持最高 50 V DC、30 V AC rms 工作电压，常态开关电流可达 10 A，短时脉冲电流最高 50 A，800 kHz 的开关带宽可适配主流工业与车载信号，硬件负载能力突出。

该模块可实现精细化逐通道故障模拟，精准复现线路开路、信号引脚短接、对地短路、对电池电源短路等多种故障工况，全面模拟设备实际使用中的异常电气状态，有效验证控制器、电路板等被测对象的故障容错与防护性能，广泛应用于汽车 ECU、航空 FADEC 等关键控制单元的资质验证工作。在控制逻辑上，产品支持独立拓扑，具备即时切换与扫描切换双重工作模式，通道调度灵活，可适配静态故障复现、动态连续故障注入等多元化测试工况。

硬件采用标准 3U PXI 模块化形态，严格遵循 PXI 行业规范，可直接安装于标准 PXI 机箱，兼容全系 PXI 平台硬件，无需改造现有测试架构，系统集成难度低、空间利用率高。软件层面深度融入 NI 生态体系，原生适配 LabVIEW、LabVIEW 实时模块、NI VeriStand 等开发与仿真软件，配备标准驱动程序与通用 API，支持自定义测试流程开发，大幅降低 HIL 系统与自动化测试项目的软件开发周期。

依托 NI 工业级硬件设计标准，模块运行稳定、使用寿命长，结合 PXI 平台优异的同步、触发与抗干扰特性，可长期稳定运行于实验室、工业测试台等复杂工况，是汽车电子、航空航天、工业控制等领域开展故障注入、产品可靠性测试的优选设备。