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NI/NI PXI-2536/NI PXI-2536开关模块

NI/NI PXI-2536/NI PXI-2536开关模块
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NI PXI-2536 是面向半导体芯片、印刷电路板等量产电子产品验证测试的超高密度 FET 矩阵开关模块，依托标准 PXI 架构打造，是低功率直流信号多路路由、高密度自动化测试系统的核心硬件。模块采用经典 8×68 单线矩阵结构，单 3U 槽位集成 544 个交叉触点，凭借领先的通道集成能力，可大幅减少测试系统硬件数量，简化复杂布线，显著提升机柜空间利用率，满足高引脚数器件的多路信号切换需求。

本模块核心采用场效应晶体管（FET）开关技术，摒弃传统机械继电器结构，无物理触点损耗，具备无限机械使用寿命，可稳定运行于产线连续测试、高频循环切换等严苛工况，长期使用可靠性优异。电气性能方面，模块适配 ±12 V 直流、8 V 交流有效值信号，单通道开关电流 100 mA，1 MHz 开关带宽精准覆盖低压直流测试场景，是元器件低功率信号巡检、功能验证的理想选择。

在动态性能上，PXI-2536 拥有最高 50000 交叉点 / 秒的高速切换能力，搭配非阻塞矩阵架构，可同时建立多路独立信号通路，并行处理能力突出，有效缩短批量测试时长。设备集成板载通断计数功能，可实时统计开关动作次数，便于运维人员预判硬件状态，提前开展设备维护；依托 PXI 背板硬件触发总线，可与源测量单元、数字万用表等外设实现硬件级同步，保障多仪器协同工作的时序精度，进一步优化测试效率。

硬件严格遵循 PXI 工业规范，3U 单槽紧凑型设计兼容全系列 PXI 机箱及 PXI Express 混合插槽，无需改造现有测试平台即可完成功能拓展。模块配置 4 路 68 针 VHDCI 接口，连接牢固、信号传输稳定，经过严苛的环境与力学测试，抗振动、抗干扰性能良好，可长期稳定运行于研发实验室、量产测试产线等各类现场环境。

软件层面深度融入 NI 完整生态，搭载符合 IVI 规范的 NI-SWITCH 专用驱动，搭配 NI Switch Executive 专业开关管理工具，可快速完成矩阵通道配置、路由逻辑编辑。产品全面兼容 LabVIEW、TestStand 等主流开发与测试管理平台，支持代码复用，降低大型多通道测试系统的开发、调试与迁移难度。该模块凭借超高通道密度、长寿命、高速切换、易集成等综合优势，广泛应用于半导体参数测试、PCB 功能检测、消费电子量产验证等领域，为高密度直流自动化测试系统提供稳定可靠的信号路由解决方案。

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NI/NI PXI-2536/NI PXI-2536开关模块

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