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NI/NI PXI-4132/NI PXI-4132采集模块

NI/NI PXI-4132/NI PXI-4132采集模块
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详细资料：

NI PXI-4132 是一款单通道隔离型高精度 PXI 源测量单元（SMU），作为 PXI 模块化测试平台的核心测量仪器，集成可编程源输出与高精度测量功能于一体，专为元器件 I-V 特性表征、漏电检测等精密测试场景打造。模块支持四象限完整工作模式，可同时实现电能输出与负载电流吸收，最大额定功率 2 W，配备 ±10 V、±100 V 两档电压量程以及五档电流量程，覆盖从小电流到中功率的常规测试范围，可满足不同类型电子器件的电气驱动需求。

仪器拥有优异的微弱信号检测能力，电流灵敏度可达 10 pA，配合远程四线检测技术与外部屏蔽端口，大幅降低线路电阻、环境漏电流对测量结果的影响，保障高压、微电流工况下的测试精度，是集成电路、二极管、晶体管、印刷电路板、连接线缆以及光电器件漏电测试与特性分析的优选硬件。在动态测试性能上，该模块触发响应迅速，触发至输出延迟仅 500 ns，最高输出更新速率可达 4200 次 / 秒；板载硬件序列引擎可实现硬件级定时控制，结合 PXI 背板全局触发功能，能够轻松实现多模块同步工作，高效完成高速动态扫描、批量器件并行测试等复杂任务。

硬件采用工业级 3U 单槽 PXI 模块化设计，符合 PXI 标准规范，可直接安装于任意标准 PXI 机箱，充分利用机柜空间，兼容全系列 PXI 模块化仪器，无需改造现有测试架构即可完成系统扩容与功能升级。设备经过严苛的环境与力学测试，抗振动、抗电磁干扰能力突出，可长期稳定运行于研发实验室、产线测试台等各类应用场景。

软件层面深度融入 NI 完整生态体系，标配专用 NI-DCPower 驱动，全面兼容 LabVIEW、LabVIEW 实时模块、LabWindows/CVI 等主流开发工具，同时支持 C/C++、Visual Basic 等通用编程语言，提供标准 API 接口，降低程序开发、系统调试与项目迁移难度。该模块广泛应用于半导体测试、电子元器件质检、嵌入式产品可靠性验证等领域，凭借高精度、高速度、易集成的综合优势，为自动化精密测试系统提供可靠支撑。