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NI/NI PXIe-4141/NI PXIe-4141源测量单元

NI/NI PXIe-4141/NI PXIe-4141源测量单元
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NI PXIe-4141 是一款四通道精密 PXI Express 源测量单元，专为高通道数、高引脚数自动化测试场景研发，将可编程源输出与高精度测量功能集成于一体，是半导体器件、MEMS 芯片、射频 IC、小型电路板等元器件电气特性测试的核心硬件。模块采用高密度四通道集成设计，依托 PXIe 平台可灵活扩展大规模测试通道，显著简化多工位并行测试系统架构，提升机柜空间利用率。

该模块支持四象限全工况运行，单通道输出规格为 ±10 V、±100 mA、额定功率 1 W，既能为被测器件稳定供电，也可吸收负载回馈电流，全面覆盖器件静态功耗、动态负载、反向电气特性等测试项目。每通道集成远程四线传感电路，从硬件层面规避线路压降干扰，保障精密测量结果的准确性。同时设备搭载 NI 自研 SourceAdapt 自适应控制技术，可针对阻性、容性等差异化负载自动调节控制环路，大幅降低输出瞬态扰动，在复杂负载条件下仍可保持稳定输出状态。

在动态测试与时序控制方面，PXIe-4141 拥有优异的高速采样能力，可精准捕捉器件瞬态电气变化，快速完成 I-V 曲线绘制与参数表征；板载高速硬件序列引擎结合 PXI Express 背板触发总线，可实现本模块多通道以及与开关模块、数字测试模块等外设的纳秒级同步联动，满足高速连续测试、批量器件筛查等高效率应用需求。

硬件遵循 PXI Express 行业规范，为 3U 单槽紧凑型模块，配备 25 针 D-SUB 标准接口，安装接线便捷，可无缝接入现有 PXIe 测试平台，无需改动原有系统架构。设备经过严苛的环境与力学测试，工作温度覆盖 0 °C 至 55 °C，具备良好的抗振动、抗电磁干扰性能，适配研发实验室、量产产线等各类长期连续运行场景。

软件层面深度融入 NI 完整生态体系，标配专用驱动程序、交互软面板及丰富例程，全面兼容 LabVIEW、LabWindows/CVI 等主流开发工具，同时支持 C/C++、.NET 等通用编程语言二次开发，降低程序编写、系统调试与项目迁移难度。该模块凭借高通道密度、高精度、强同步性与易集成的综合优势，广泛应用于半导体测试、微电子器件验证、消费电子质检等领域，为精密自动化测试系统提供可靠支撑。

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NI/NI PXIe-4141/NI PXIe-4141源测量单元

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