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HP/4155A/惠普(HP)4155A半导体分析仪

HP/4155A/惠普(HP)4155A半导体分析仪
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详细资料：

产品简介：

惠普4155A 半导体参数分析仪提供高分辨率/准确度和宽范围；I：1 fA 至 100 mA（20 fA 偏移精度），V：1 微 V 至 100 V，采用直流或脉冲模式的全自动 IV 扫描测量，可扩展至 6 个 SMU，同步应力/测量功能，两个高压脉冲发生器单元 (+/- 40 V)，时域测量：60 微秒 - 可变间隔，最多 10,001 个点，易于使用：类似于曲线跟踪器的旋钮扫描，自动分析功能和自动化：内置 HP仪器 BASIC，触发 I/Q 功能。

主要特点

两个高压脉冲发生器单元 (+/- 40 V)

时域测量：60 微秒 - 可变间隔高达 10,001 点

易于使用的旋钮扫描，类似于曲线跟踪器

自动分析功能

内置安捷伦/惠普仪器 BASIC

触发 I/Q 能力

4145B半导体参数分析仪设计用于半导体的生产线和实验室，HP4145B是电子工业中***个可以独立对半导体器件和材料进行直流参数的仪器。HP4145B通过对器件加电压，测电流，HP4145B或加电流测电压

并将测试结果显示在内置的CRT显示器上，结果可根据用户需要显示为图形、表格、矩阵等等。

在350μs之内就可以完成接触检测验证与报告，有利于保持高速生产效率

可以通过该仪器的前置面板或通过GPIB远程控制接触检测操作

内置的“源存储器”可编程序列发生器***多可存储100个不同的测试，以满足高速生产的需要