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Tektronix/80E04/泰克80E04电接口取样模块
详细资料:产品描述:
泰克 80E10B、80E08B 和 80E04 电采样模块是双通道时域反射计 (TDR) 采样模块,在 80E10B 中提供高达 12 ps 的入射和 15 ps 的反射上升时间(80E08B 中为 18 ps 入射,80E04 中为 23 ps 入射)。这些模块的每个通道都能够生成一个用于 TDR 模式的快速步长,采样模块的采集部分监控入射步长和任何反射能量。每个通道步进的极性可以独立选择。除了对隔离线路进行独立测试外,还允许对两条耦合线路进行差分或共模 TDR 或 S 参数测试。每个通道的独立步长生成可实现真正的差分测量,从而确保差分器件的测量精度。
关键技术参数与性能优势 1. 基础性能参数 带宽与上升时间:模块带宽高达 20GHz,可精准捕捉高频信号细节;入射上升时间仅 12ps,反射上升时间为 23ps,能快速响应信号的瞬态变化,满足高速信号(如 5G 通信、高速串行总线)的测试需求。 输入阻抗与分辨率:输入阻抗标准为 50±0.5Ω,阻抗分辨率小于 1mm,可精确检测传输链路中的阻抗不连续点(如电缆接头、PCB 板线缺陷等),为链路优化提供精准数据支撑。 通道配置:采用双通道设计,支持同时对两路高速信号进行采样分析,大幅提升多通道设备(如服务器主板、通信基站模块)的测试效率,减少测试流程耗时。 2. 独特功能设计 真正差分测量能力:模块具备真正差分测量功能,可直接对差分信号(如高速串行总线中的差分对)进行精准测试,无需额外搭建复杂的差分转换电路,有效避免转换过程中引入的信号干扰,确保测量结果的真实性与可靠性。 灵活的取样方式:配备多种精密微波连接器,同时支持远程取样器选配。在测试大型设备或不便直接接触的被测点时,远程取样器可贴近被测设备进行信号采集,减少信号传输过程中的衰减与失真,保障信号保真度。 独立偏移校正功能:内置独立的偏移校正模块,可针对测试过程中使用的夹具、电缆等配件进行误差补偿(即夹具反嵌)。通过一键校正,能消除配件本身的阻抗影响,让测试数据更贴近被测设备的真实性能,尤其在高频段测试中,可显著提升测量精度。
仪器保证:我们的大多数设备在装运之前均经过严格的质量检测与校验。也可申请国家计量证书。 |
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