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    Tektronix/DSA8300/泰克(Tektronix)DSA8300采样示波器

    • Tektronix/DSA8300/泰克(Tektronix)DSA8300采样示波器
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    泰克(Tektronix)DSA8300采样示波器/Tektronix缩略图

    详细资料:

    产品描述

    泰克 DSA8300 模块化采样示波器,主打超高速光电信号完整性检测,采用等效采样架构,适配数十 Gbps 乃至百 Gbps 高速通信器件验证。设备支持多类型光电测试模块自由搭配,覆盖电信号、光信号、TDR 阻抗检测多类需求,时基抖动控制水平优异,能够精准解析眼图、抖动、上升沿等细微信号特征。内置齐全的串行总线分析工具,兼容 PAM4、NRZ 等主流调制信号,配套各类行业一致性测试模板,一键完成标准化指标检测。设备接口,支持程控自动化测试,广泛应用于 800G 光模块、高速 PCB、芯片 SerDes、硅光器件研发实验室,可提供短期租赁、长期项目使用等灵活仪器租用方案。

    主要特点

    主机性能:支持最多 16 通道同步采集,采样率可达 300 GHz,内存深度最高 32 M;原生时基抖动 425 fs RMS,搭配 82A04B 模块可降至 100 fs RMS 以下,提供 120 余种自动测量功能。

    80E04 TDR 模块:适配主机实现 10 ps 典型步进上升时间,支持 50 GHz 带宽 S 参数测量,阻抗分辨率出众,可精准检定 PCB 与电缆的阻抗不连续性。

    80C07B 光模块:700 nm-1650 nm 波长适配,光学分辨率 < 20 nW(1 mW 全量程);支持 155 Mb/s-10 Gb/s 速率时钟恢复,内置校准消光比测量功能。

    80E09 电模块:带宽最高 60 GHz,20 GHz 时噪声仅 280 μV RMS;配备远程采样器贴近被测器件,减少信号劣化,支持带宽可调节以平衡性能与噪声。

    信号分析能力:集成抖动 / 噪声 / BER 分析,可分离确定性与随机成分,支持 PAM4 信号眼图分析及 TDECQ 测量;内置 80 余种行业标准模板测试功能。

    系统扩展性:主机含 6 个模块插槽,支持热插拔更换模块;兼容 IConnect 仿真软件,可实现 S 参数提取与串行链路仿真,适配 ITU/ANSI/IEEE 多标准测试。

     

    仪器保证:

    我们的大多数设备在装运之前均经过严格的质量检测与校验。也可申请国家计量证书。

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