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Agilent/8163A+81635A/销售、租赁 | 安捷伦 (Agilent) 8163A+81635A 模块化双通道高精度光功率测试组合无源器件同步损耗检测仪

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销售、租赁 | 安捷伦 (Agilent) 8163A+81635A 模块化双通道高精度光功率测试组合无源器件同步损耗检测仪/Agilent缩略图

详细资料：

产品简介

整套设备由 8163A 双插槽光波万用表主机搭配 81635A 双通道光功率传感模块组成，采用双 InGaAs 探测器，覆盖 800~1650nm 全通信波段，功率量程 - 80~+10dBm，可同步采集两路光信号功率数值。模块偏振相关损耗低至 ±0.015dB，测量总不确定度仅 ±3%，线性误差极小，适配分光器、耦合器、阵列光纤等双通道无源器件同步对比测试。最短平均采样时间 100μs，单通道缓存 20000 组采样数据，支持硬件同步触发可调谐激光器完成光谱扫描，主机自带图形显示界面，搭配 GPIB/LAN 程控总线，可搭建自动化光学测试平台，广泛用于光器件研发、出厂损耗校验与长期稳定性老化监测。

产品核心特点

双通道同步并行测量

81635A 集成两路独立光探测通道，一次采集输入、输出两路功率，直接计算插损、分光比，省去两次分步测试，大幅提升阵列无源器件检测效率。

超低偏振与波长误差

双路 InGaAs 感光芯片，偏振相关损耗≤±0.015dB，全波段响应均匀，规避光纤偏振态波动带来的数据漂移，保证分光比、损耗测量重复性。

宽动态高精度量程

功率测量范围覆盖 - 80~+10dBm，微弱光与大功率信号均可精准读取，1550nm 线性误差 ±0.02dB，计量数据可用于产品合规出厂检验。

高速采样与大容量缓存

最小平均时间 100μs，每秒最高 4 万次读数，内置 20000 点本地存储，无需上位机持续连接，独立完成长时间功率波动、温漂老化记录。