|
|||||||||||||||||||
|
当前位置:其它仪器(二手) > 半导体参数分析仪 > 半导体参数分析仪
NI/PXIe-1062Q主机+PXIe-4141/销售、租赁 | NI PXIe-1062Q 机箱 + PXIe-4141 多通道高精度半导体 IV 曲线自动化测试整套平台
详细资料:产品简介
整套平台由 NI PXIe-1062Q 8 槽 PXIe 机箱搭配 PXIe-4141 精密源测量单元组成,专为半导体芯片、分立器件、传感器开展 IV 曲线自动测试打造。PXIe-4141 集成一体化源测功能,电压输出范围 ±200V,最小测量电流可达 fA 级,具备皮安级微弱电流捕捉能力,可精准采集二极管、MOS 管、光电元件、晶圆芯片的伏安特性。机箱搭载高速 PXIe 总线,多模块同步时序控制,支持多器件并行循环检测,配套 LabVIEW 驱动程序,可快速搭建自动化测试序列,完成漏电、击穿电压、导通电阻、阈值电压批量校验,广泛用于半导体研发实验室、晶圆探针台产线与元器件出厂质检。
产品核心特点fA 级超高微弱电流测量精度 PXIe-4141 具备皮安级电流检测能力,可精准捕捉芯片微小漏电流,可测电流低至 10 fA,适配低功耗半导体、光电探测器、微型传感器精密 IV 表征。 宽量程电压输出覆盖 支持 ±200V 直流可编程电压输出,阶梯式精准调压,可完成器件击穿、反向耐压、正向导通全套工况仿真,无需搭配多台立源表。 PXIe 高速同步多通道架构 PXIe-1062Q 提供 8 个拓展插槽,可叠加多片 4141 模块实现多路器件并行测试,总线传输速率高,通道同步触发无时间差,大幅提升晶圆批量检测效率。 一体化源测一体化设计 单模块同时完成电压激励与电流采集,消除外部仪表接线引入的测量误差,内置屏蔽电路,抑制空间电磁干扰,保障微小信号测量稳定无漂移。 适配探针台全自动联动 标准数字 IO 硬件触发接口,可直接对接晶圆探针台,实现探针下压、上电测量、抬针换片全自动流程,适配 2/4/6 寸晶圆自动化测试产线。
仪器保证:我们的大多数设备在装运之前均经过严格的质量检测与校验。也可申请国家计量证书。 |
|
|||||||||||||||||
|
|||||||||||||||||||