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    SANTEC/IVS-1000/2000/销售、租赁 | Santec 圣德科 IVS-1000/2000 扫频光源光学相干层析成像 SS-OCT 系统

    • SANTEC/IVS-1000/2000/销售、租赁 | Santec 圣德科 IVS-1000/2000 扫频光源光学相干层析成像 SS-OCT 系统
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    销售、租赁 | Santec 圣德科 IVS-1000/2000 扫频光源光学相干层析成像 SS-OCT 系统/SANTEC缩略图

    详细资料:

    产品概述

    Santec 圣德科 IVS-1000、IVS-2000 是自研扫频光源架构的 SS-OCT 光学相干层析成像整套系统,IVS-1000 采用 1060nm VCSEL 可调激光器,超长成像深度,适配高含水生物样本;IVS-2000 搭载 1310nm 高速 HSL 扫频光源,分高分辨率、高速、长量程多细分机型可选。设备实现非接触、无损伤、无侵入检测,支持 1D 深度轮廓、2D 断层、3D 立体成像,轴向分辨率低至 5μm,A 线扫描速率最高 400kHz,实时输出清晰断层图像。配套 Inner Vision 专业成像软件,自带测距、峰值分析、时序记录功能,开放 LabVIEW/C++/C# 标准化 SDK,可对接自动化产线。广泛用于眼科生物检测、半导体 / 玻璃 / 高分子内部缺陷探伤、多层薄膜厚度测量、精密器件三维轮廓表征,兼顾医学实验室与工业质检场景。

    核心产品特点

    双波段扫频光源方案:IVS-1000(1060nm)长深度、低水吸收;IVS-2000(1310nm)多配置可选,适配生物、工业不同样品

    微米级超高成像精度,轴向分辨率<5μm,精准识别薄层、微小内部分层与细微缺陷

    高速实时扫描成像,A 线速率最高 400kHz,30 帧 / 秒动态成像,可连续记录时序变化图像

    无损非接触测量,无需切片、不破坏样品,对比 X 光、超声具备更高光学分层辨识度

    完整多维测量能力,一键输出一维深度曲线、二维断层切片、三维立体重构数据

     

    仪器保证:

    我们的大多数设备在装运之前均经过严格的质量检测与校验。也可申请国家计量证书。

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