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Tektronix/80C11-CR4/销售、租赁|泰克 (Tektronix) 80C11‑CR4 光采样模块
- Tektronix/80C11-CR4/销售、租赁|泰克 (Tektronix) 80C11‑CR4 光采样模块
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详细资料:
产品简介
泰克 (Tektronix) 80C11‑CR4 是适配 DSA8200、DSA8300 采样示波器平台的长波长光采样插卡模块,集成 CR4 连续时钟恢复选件,覆盖 9.8‑12.6Gb/s 速率区间,适配各类 10G 通信速率光信号测试。模块光带宽 30GHz,工作波长 1100‑1650nm,单模光纤输入,眼图模板测试灵敏度‑9dBm,内置光功率监测功能,可完成眼图、消光比、Q 因子、抖动、OSNR 等多项光信号参数采集分析,支持万兆以太网、SONET/SDH 光模板一致性测试,无需外接时钟源即可完成光发射机信号采集。插卡式结构直接装入示波器主机插槽,广泛应用于 10G 光模块、光发射组件、高速激光器的信号完整性分析、实验室研发以及产品合规验证测试场景。
核心特点
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集成 CR4 时钟恢复单元,无需外部时钟输入,简化测试系统搭建,降低测试链路复杂度,适配各类标准与自定义 10G 速率信号。
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30GHz 高光带宽,长波长工作区间,对 10G 光通信信号具备优异的信号还原能力,还原真实信号边沿与抖动细节。
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集成光功率监测,硬件层面同步采集光功率与波形数据,减少外接仪表,提升整套测试方案集成度。
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支持行业标准光模板测试,可直接输出合规判定结果,可用于光发射器件出厂一致性检测,适配产线验证需求。
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采样示波器模块化架构,可多卡并行配置,便于扩展多通道测试,兼容 DSA8200/DSA8300 整机程控,便于接入自动化测试平台。
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针对 10G 光通信器件深度优化,可对 NRZ、RZ 光信号做深度分析,覆盖眼图、噪声、消光比等光器件关键性能指标表征。
仪器保证:
我们的大多数设备在装运之前均经过严格的质量检测与校验。也可申请国家计量证书。