主要技术指标
主要优点
单次扫描中的最高精度：无需对多次扫描进行平均
高测量速度
在不到10秒内完成跨C / L波段的测量（无需等待许多平均值）
抗纤维运动/振动和漂移的鲁棒性
描述
安捷伦科技推出了N7788BD组件分析仪的组件测量限制。其专有技术与众所周知的琼斯矩阵特征分析（JME）相当，后者是测量光学器件的偏振模色散（PMD）或差分群延迟（DGD）的标准方法。

安捷伦的新型单次扫描技术提供了一系列优点来测试一整套参数：

DGD / PMD
PDL
功率/损耗
TE / TM-Loss
二阶PMD
主要极化国家（PSPs）
琼斯和米勒矩阵
专为制造层设计

高通量：在不到10秒的时间内完成C和L波段的完整分析！

软件驱动程序：一系列软件驱动程序可用于系统的外部控制。这允许容易地集成到公共ERP系统中。

远程控制：支持通过LAN或通过Internet控制仪器。这支持自动化以及故障排除。

报告生成：支持生成PDF报告。包括布局的内容可由用户配置。

实时功率读数：通过提供实时功率读数来支持非连接器组件的高吞吐量测量，实现新器件的光纤耦合。

条形码扫描器：支持使用条形码扫描器快速传送DUT序列号。