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    Tektronix/DSA8300/数字采样示波器

    • Tektronix/DSA8300/数字采样示波器
    • 欲购买或租赁Tektronix/DSA8300/数字采样示波器?请在线咨询或拔打24小时电话:13715327187
    数字采样示波器/Tektronix缩略图

    详细资料:

    为挑战性的高速检定测试提供最优秀的信号保真度

    DSA8300系列提供了行业领先的<100 fs固有抖动,可以实现异常准确的器件检定,全面支持光通信、时域反射计和S参数。DSA8300数字采样示波器为155Mb/s - 100G的数据通信提供了完整的高速物理层测试平台。

    主要特点

    优点

    电接口模块信号测量精度:
    • 超低系统抖动(<100 fs, 典型值)
    • >70GHz, 100 fs抖动采集
    <100 fs固有抖动,测试仪器占用的信号单位间隔一般<5%,可以检定高信息速率(40和100 (4´25) Gb/s)器件。70 GHz带宽可以全面检定高信息速率信号(五阶谐波,28 Gb/s数据速率;三阶谐波,> 45 Gb/s数据速率)。
    在所有带宽下提供业内最低的系统噪声:
    • 600 µV最大值 (450 µV典型值) @ 60 GHz
    • 380 µV最大值 (280 µV典型值) @ 30 GHz
    在采集高信息速率、低幅度信号时最大限度地降低仪器噪声数量,消除额外噪声,这些噪声本身可能表现为额外的抖动和眼图闭合。
    在一台主机中最多6通道同时采集数据,<100 fs抖动 对多条差分通道进行高保真采集,可以测试跨通道损伤,改善拥有多条高速串行通道的系统的测试吞吐量。
    光接口模块支持40 Gb/s和100 Gb/s (4x25)以太网光接口一致性测试 为40 Gb和100 Gb (4x25), IEEE 802.ba以太网标准提供经济的通用光接口测试系统。
    杰出的采集吞吐量,最大采样率高达300 kS/s 杰出的系统吞吐量,把制造或器件检定测试时间降低4倍。
    能够让采样器紧邻被测器件(DUT) 远程采样头,最大限度地降低由于DUT到仪器的布线和夹具引起的信号劣化,简化测试系统反嵌。
    独立校正校准后的通道偏移 双通道模块集成校准后通道偏移校正功能,消除偏移校正,增强多通道测量的信号保真度。

    仪器保证:

    我们的大多数设备在装运之前均经过严格的质量检测与校验。也可申请国家计量证书。

    仪器高级查询

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