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    HP/8509B/销售、租赁|HP 8509B 光波偏振分析仪

    • HP/8509B/销售、租赁|HP 8509B 光波偏振分析仪
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    销售、租赁|HP 8509B 光波偏振分析仪/HP缩略图

    详细资料:

    产品描述
    HP 8509B 光波偏振分析仪是惠普(HP)推出的一款专业级光偏振分析设备,专为光通信、光纤传感及光学元件测试领域设计。该仪器能够对光信号或光器件进行全面的偏振状态分析,支持极化模式色散(PMD)、极化相关损耗(PDL)等关键参数的测量,并具备极化保偏光纤对准功能。其硬件设计采用四个二极管检测方案,覆盖1200 nm至1600 nm波长范围,集成1300 nm和1550 nm法布里-珀罗激光器及自动三态偏振发生器,同时兼容外部单波长或波长扫描光源。系统通过硬件、软件和算法的协同优化,为光波器件和系统的研发提供高效的偏振特性测试解决方案。
    主要特点
    • 全面的偏振状态分析:支持对光信号和光器件的偏振状态进行完整表征,涵盖极化模式色散(PMD)、极化相关损耗(PDL)及偏振度(DOP)等核心参数,满足复杂光系统的测试需求。
    • 双模式PMD测量方法:提供波长扫描法和琼斯矩阵(Jones Matrix)法两种PMD分析技术,可根据测试场景灵活选择,提升测试灵活性。
    • 高精度偏振保偏光纤对准:内置自动对准功能,可精确调整极化保偏光纤的偏振轴,确保测试结果的准确性和重复性。
    • 宽波长范围与多光源支持:检测波长覆盖1200 nm至1600 nm,集成1300 nm和1550 nm法布里-珀罗激光器,并兼容外部单波长或波长扫描光源,适应不同测试条件。
    • 自动化测试与高效操作:支持快速自动测量,能够自动完成光学元件的偏振相关损耗测试,显著缩短测试时间并提升效率。
    • 模块化与可扩展性:硬件设计采用模块化结构,支持功能扩展和升级,用户可根据需求定制测试系统,降低长期使用成本。

    仪器保证:

    我们的大多数设备在装运之前均经过严格的质量检测与校验。也可申请国家计量证书。

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