Keysight/4155B /是德科技 4155B 半导体参数分析仪

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详细资料：

• 高分辨率/精度和宽范围。一： 1 fA至1 A（20 fA偏移精度），V:1µV至200 V
• 采用直流或脉冲模式的全自动I-V扫描测量
• 最多可扩展6个SMU
• 同步应力/测量功能
• 两个高压脉冲发电机组（±40 V）
• 时域测量：60µs–可变间隔，最多10001点
• 易于使用：旋钮扫掠类似于曲线跟踪器
• 自动分析功能
• 自动化：内置HP Instrument BASIC，触发I/O功能

仪器保证：

我们的大多数设备在装运之前均经过严格的质量检测与校验。也可申请国家计量证书。