主要优势

• 快速访问内部FPGA信号
• 在数秒钟之内进行增量测试而不改变设计时间
• 可访问多达128种内部信号，用于每个调试专用的针
• 可在状态（同步）模式或定时（同步）模式中进行测量

自动设置

• 从FPGA设计工具中自动导入信号名称
• 自动针映射能减少错误，节省时间

兼容性

• Xilinx设备：Virtex-5、Virtex-4、Virtex-II Pro、Virtex-II和Spratan-3
• 需要Xilinx ChipScope Pro或嵌入式开发套件（EDK)
• 探头：飞线、mictor、samtec或软接触探头
• 逻辑分析仪：全部16900系列、16800系列、1680系列、1690系列

B4655A 主要特点

• 查看FPGA的内部操作。对调试专用的每个针脚，您现在可以查看最多64个内部信号。
• 可以在几秒内在内部探点之间切换。如果没有这种功能，在逻辑分析仪中移动FPGA内部探点需要耗费大量的时间。现在，您只需不到一秒的时间，就可以简便地测量一套不同的内部信号，而不需重新汇编，从而使FPGA定时保持不变。
• 利用您在设计环境中已经完成的工作。FPGA动态探头可以把FPGA设计工具的内部信号名称映射到逻辑分析仪上。自动设置总线名称和信号消除了错误，节约了时间。
• 软件更新服务，包括1年的节点锁定许可。
• 可以用于16900系列主机、1680系列和1690系列逻辑分析仪。
• 探测Xilinx Virtex-II Pro系列、Virtex-II系列和Spartan-3系列设备。