• 小巧的封装尺寸
• 低插入损耗
• 整体系统解决方案（硬件和软件）
• 作为开关矩阵或整体系统解决方案的一部分提供
• 宽频率范围
• 热/真空试验
• 在与是德电子校准件搭配进行初始校准时，可追溯到 NIST

在射频测试中，测试系统与被测单元（UUT）之间的路径可能产生许多导致测试成本增加的问题，例如昂贵的长 SiO2 电缆和漫长的测试时间。测试期间，路径的射频特性可能发生变化，导致测试部件、热/真空环境中的被测单元以及其它设置与配置失效。

通过与合作伙伴 COM DEV 协作，是德提供现场校准、校正和验证解决方案。 校正数据可显著提高 S 参数测量的精度，在常规重新校准时无需断开测试电缆连接或中断测试。