Keysight/N7788A/光学元件分析仪

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详细资料：

主要特点Azukawaza术指标
主要优点

精度最高的一次扫描：在多个扫描无均分要求
高测量速度
C两端/ L波段完整测量在不到10秒（无需等待许多平均值）
对纤维运动/振动和漂移鲁棒性
描述
Keysight技术推与N7788A元器件Analyzer组件测量的极限，其专利技术是公知的琼斯矩阵-本征分析（JME），它是用于测量偏振模色散（PMD）或差分群时延的标准方法（可比DGD）光学设备。

Keysight的新单曲扫描技术提供了一系列的优势，以测试一套完整的参数：

DGD / PMD
PDL
电源/亏损
TE / TM-损失
二阶PMD
偏振主态（PSP的）
琼斯和米勒矩阵
专为生产车间

高通量：整个C和L波段的完整分析，在不到10秒内未进行！

软件驱动程序：软件驱动程序的范围是适用于系统的外部控制这使得通用的ERP系统集成。

支持遥控:.通过局域网或互联网的仪器控制这支持自动化以及故障排除。

报告生成:.生成PDF格式的报告支持包括布局的内容是由用户配置。

实时功率读数：非连接器连接部件的高通量测定是通过提供一个实时功率读数其使得新装置的光纤耦合的支持。

条码扫描器：使用条形码扫描仪支持对DUT序列号的快速传输。

仪器保证：

我们的大多数设备在装运之前均经过严格的质量检测与校验。也可申请国家计量证书。