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    KEITHLEY/4200-SCS/Keithley 4200-SCS 半导体特性分析系统

    • KEITHLEY/4200-SCS/Keithley 4200-SCS 半导体特性分析系统
    • 欲购买或租赁KEITHLEY/4200-SCS/Keithley 4200-SCS 半导体特性分析系统?请在线咨询或拔打24小时电话:13715327187
    Keithley 4200-SCS 半导体特性分析系统/KEITHLEY缩略图

    详细资料:

    产品描述:
     
    Keithley 4200-SCS 是一款实验室级的半导体特性分析系统,Keithley 4200-SCS 半导体特性分析系统主要用于器件 I-V/C-V 特性测量、可靠性与耐久性测试等场景。该系统支持二端、三端、四端电子器件测试,适配 wafer 测试需求。它内置嵌入式 PC 机,采用 Windows 操作环境,配备自动记录系统和点击式交互界面以加速数据获取,配置大于 120GB 硬盘、USB 接口及以太网接口。系统可集成多种模块,如脉冲式 I-V 功能模块、Stress/Measure 可靠性测试模块等,还可连接 Keithley KITE 环境控制外围设备,兼容 Cascade Microtech Summit 12K 系列探针台。
     
    产品特点:
     
    高精度与高分辨率:独特的远端前置放大器,可将 SMU 的分辨率扩展至 0.1fA,当配置选配的 4200-PA 远程前端放大器时,电流测量分辨率可低至 10aA,能满足超低电流测量需求,如确定 FET 的栅极泄漏电流等。
    功能丰富多样:核心采用世界一流的源测量单元(SMU),可提供电压或电流,并以高分辨率和精度同时测量电压和电流,实现 I-V 同步测量。还具备超低频率 C-V 测量技术,无需 LCR 仪表或电容模块即可执行超低频率电容电压测量。此外,系统集成了脉冲式 I-V 功能、示波与脉冲测量功能等。
    软件功能强大:配备 Clarius TM 基于 GUI 的软件,提供了清楚的测量和分析功能,拥有树形结构项目设计,允许用户无需编程即可调整和修改测试顺序,还具备自动数据显示、算法分析和实时参数提取功能。软件中包含 450 多项应用测试,可帮助用户快速开始测试。

     

    仪器保证:

    我们的大多数设备在装运之前均经过严格的质量检测与校验。也可申请国家计量证书。

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