KEITHLEY/4200-SCS/Keithley 4200-SCS 半导体特性分析系统

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详细资料：

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Keithley 4200-SCS半导体表征系统为半导体器件表征提供直观和复杂的功能，具有9个插槽机箱和集成控制器。通过结合前所未有的测量灵敏度和精度，该器件可确保在200 V时测量精度为0.015% +3 mV，在200 mV时测量精度为0.012% +80µV。

Keithley 4200-SCS半导体表征系统配备了嵌入式基于Windows®的操作系统，同时具有集成的DVD/CD-RW驱动器，允许高容量备份和数据传输。Keithley 4200-SCS是模块化，可配置和可升级的，提供四个核心测量模块，可在九个仪器插槽中混合和匹配，并配置多达七个额外的smu。

特点:

• 精确的直流电流-电压(I-V)测量是完整表征计划的基础
• 交流阻抗，包括众所周知的电容电压(C-V)技术，提供的信息超过了单独的直流电所能提供的信息
• 脉冲和瞬态测试增加了一个时域维度，并允许探索动态特性
• 高达9个精度的直流源测量单元可以提供电压或电流，测量0.1 fA至1a和1 μV至210 V的电压或电流
• 使用4210-CVU多频C-V模块进行交流阻抗测试，测试频率从1 kHz到10 MHz
• 脉冲和瞬态测量可以使用4225-PMU Ultra-Fast I-V模块进行
• 两种不同的数字示波器模块的选择，使数字化波形简单，高效

仪器保证：

我们的大多数设备在装运之前均经过严格的质量检测与校验。也可申请国家计量证书。