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KEITHLEY/4200/吉时利 4200 半导体表征系统
- KEITHLEY/4200/吉时利 4200 半导体表征系统
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详细资料:
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产品描述:
使用 4200 参数分析仪(参数测试仪)加快各类材料、半导体器件和先进工艺的开发,完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200 是业内性能领先电学特性参数分析仪,提供同步电流电压曲线测试 (I-V曲线测试)、电容-电压曲线测试 (C-V曲线测试) 和超快脉冲 I-V曲线测量。
特点:
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用于 DC IV、CV 和脉冲 IV 测量类型的高级测量硬件
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立即使用 Clarius 软件中所含的数百种用户可修改应用程序测试开始测试
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自动实时参数提取、数据绘图、分析函数
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同类产品中首款能够驱动1 V AC 电源电压的 CV 表
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1 kHz 频率,分辨率从1 kHz 到 10 MHz
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测量电容、电导和导纳
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使用 4200 多路开关最多可测量四个通道
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无需重新布线即可将 C-V 测量移动到任何设备终端
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用户可配置低电流功能
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个性化输出通道名称
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查看实时测试状态
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不必将仪器送回工厂即可增加 SMU
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进行 飞安测量
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多达 9 个 SMU 通道
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针对长电缆或大卡盘进行了优化
仪器保证:
我们的大多数设备在装运之前均经过严格的质量检测与校验。也可申请国家计量证书。