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SANTEC/ILM-100/插入损耗仪
详细资料:, 圣德科 ILM-100 插入损耗仪描述:
ILM-100 旨在快速准确地测量光纤组件的插入损耗。该系统具有用于单模应用的内置稳定激光源或用于多模应用的 LED 光源。使用双波长配置,可以在不到 1 秒的时间内测量两个波长的插入损耗。ILM-100 系统配备了 USB 和以太网控制,便于集成到测试系统中。
特点:
紧凑型台式仪器,可实现一体化操作
USB和以太网接口
测试软件OPL-CLX可用于记录测量
全自动单波长和双波长插入损耗测量
提供具有定义发射条件(EF、AS100、70/70 等)的多模式仪器
各种探测器选项
可定制的光源和光纤类型
可互换的适配器接口
仪器保证:我们的大多数设备在装运之前均经过严格的质量检测与校验。也可申请国家计量证书。 |
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